- Tytuł:
- Zastosowanie mikroskopu sił atomowych do badania własności tarciowych ultracienkich powłok
- Autorzy:
-
Janowska, J.
Rżanek-Boroch, Z.
Ekwińska, M. - Data publikacji:
- 2003
- Słowa kluczowe:
-
mikroskop sił atomowych
topografia powierzchni
technika elektroplazmowa
powłoki ultracienkie
atomie force microscope
topography
films deposited by electroplasma technique - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł