Temat: built-in test - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "built-in test" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-10 z 19

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Built-in test scheme for detection, classification and evaluation of nonlinearities
Autorzy:: Toczek, W.
Kowalewski, M.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: built-in test
oscillation-based test
evaluation of nonlinearities
sigma-delta modulator
neural networks; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: CAD package for designing of self-testable VLSI circuits
Autorzy:: Bojanowicz, D.
Data publikacji:: 1998
Słowa kluczowe:: CAD system
self-testable circuits
built-in self-test
circuit simulation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych
Autorzy:: Toczek, W.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: technologia samotestowania
układy w pełni różnicowe
built-in self-test
fully differential circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: New Structure of Test Pattern Generator Stimulating Crosstalks in Bus-type Connections
Autorzy:: Garbolino, T.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: integrated circuit interconnections
crosstalk
test pattern generator
built-in self-test
system-on-a-chip; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: New Structure of Test Pattern Generator Stimulating Crosstalks in Bus-type Connections
Autorzy:: Garbolino, T.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: integrated circuit interconnections
crosstalk
test pattern generator
built-in self-test
system-on-a-chip; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Demonstrator testera wbudowanego BIST dla układów w pełni różnicowych
Demonstrator of BIST for testing and diagnosis of fully differential circuits
Autorzy:: Toczek, W.
Kaczmarczyk-Mróz, K.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: ocena zgodności wyrobów
testery wbudowane BIST
diagnostyka uszkodzeń
conformity assessment
built-in self-test
fault diagnosis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Demonstrator testera wbudowanego BIST dla układów w pełni różnicowych
Autorzy:: Toczek, W.
Kaczmarczyk-Mróz, K.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: ocena zgodności wyrobów
testery wbudowane BIST
diagnostyka uszkodzeń
conformity assessment
built-in self-test
fault diagnosis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: On enhancing diagnostic effectiveness of autonomous test structures for digital circuits of medical devices
Autorzy:: Chodacki, M.
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Uniwersytet Śląski. Wydział Informatyki i Nauki o Materiałach. Instytut Informatyki. Zakład Systemów Komputerowych
Tematy:: symulacja układów cyfrowych
pseudolosowe testowanie
wbudowany autotest
simulation of digital circuits
pseudorandom testing
built-in self-test; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: On enhancing diagnostic effectiveness of autonomous test structures for digital circuits of medical devices
Autorzy:: Chodacki, M.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: symulacja układów cyfrowych
pseudolosowe testowanie
wbudowany autotest
simulation of digital circuits
pseudorandom testing
built-in self-test; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: On the use of Ring LFSR based BIST for detection, identification and localization of static and dynamic faults in interconnects
Autorzy:: Hławiczka, A.
Gucwa, K.
Garbolino, T.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: interconnect test
Built-In-Self Test (BIST)
Interconnect BIST (I-BIST)
Signature analysis
linear feedback shift register (LFSR)
ring LFSR; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-10 z 19

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies