Temat: burn-in tests - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Badania degradacji diod laserowych na pasmo 880 nm
Autorzy:: Dąbrowska, E.
Nakielska, M.
Teodorczyk, M.
Sobczak, G.
Romaniec, M.
Malag, A.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: dioda laserowa
heterostruktura
badania starzeniowe
niezawodność diody laserowej
laser diode
heterostructure
burn-in tests
degradation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Badania degradacji diod laserowych na pasmo 880 nm
The investigation of degradation of laser diodes emitting at 880 nm band
Autorzy:: Dąbrowska, E.
Nakielska, M.
Teodorczyk, M.
Sobczak, G.
Romaniec, M.
Malag, A.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:: dioda laserowa
heterostruktura
badania starzeniowe
niezawodność diody laserowej
laser diode
heterostructure
burn-in tests
degradation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 2012 T.40 nr 1
Badania degradacji diod laserowych na pasmo 880 nm
Badania degradacji diod laserowych na pasmo 880 nm = The investigation of degradation of laser diodes emitting at 880 nm band
Autorzy:: Dąbrowska Elżbieta
Współwytwórcy:: Teodorczyk Marian
Nakielska Magdalena
Romaniec Magdalena
Sobczak Grzegorz
Maląg Andrzej
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: degradation
badania starzeniowe
heterostructure
burn-in tests
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
heterostruktura
dioda laserowa
Electronic - journal - materials
nioezawodność diody laserowej
Elektronika - czasopismo - materiały
laser diode; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Elektronika w pojazdach samochodowych. Cz. 3, Jak uzyskać dużą niezawodność
Autorzy:: Kołodziejski, J. F.
Szczęsny, J.
Guzdek, P.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: przyrządy półprzewodnikowe
przyśpieszone metody badania niezawodności
prognozowanie niezawodności
testy typu burn-in
niestandardowe parametry i charakterystyki elektryczne
zbieranie danych o niezawodności
semiconductor devices
accelerated reliability tests
reliability prediction
burn-in tests
nonstandard electrical parameters and characteristics
collection of reliability data; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja