- Tytuł:
- Mikroskopia sił atomowych z zastosowaniem matryc mikrodźwigni sprężystych
- Autorzy:
-
Zawierucha, P.
Zielony, M.
Kopiec, D.
Woszczyna, M.
Sarov, Y.
Frank, A.
Ivanov, T.
Zöllner, J. P.
Rangelow, I. W.
Gotszalk, T. - Data publikacji:
- 2010
- Słowa kluczowe:
-
mikroskopia sił atomowych
matryca dźwigni
topografia
atomic force microscopy (AFM)
cantilever array
topography - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech