- Tytuł:
- Charakteryzacja metodą XPS warstw azotku krzemu dla ogniw słonecznych
- Autorzy:
-
Socha, R. P.
Lipński, M.
Hejduk, K. - Data publikacji:
- 2011
- Słowa kluczowe:
-
azotek krzemu
charakterystyka XPS
PECVD
silicon nitride
XPS characterization - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
- odwiedzone