Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "defect depth" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-10 z 10
    Tytuł:
    Dwuetapowy algorytm wyznaczania głębokości defektów z zastosowaniem aktywnej termografii dynamicznej
    A two-stage algorithm for defect depth estimation using active thermography
    Autorzy:
    Dudzik, S.
    Minkina, W.
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    aktywna termografia dynamiczna
    sieci neuronowe
    wyznaczanie głębokości defektu
    active thermography
    neural networks
    defect depth estimation
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Ocena wpływu błędu określania emisyjności powierzchni na błąd wyznaczania głębokości defektu z zastosowaniem termografii aktywnej i sztucznej sieci neuronowej
    An analysis of systematic interactions in defect depth estimation using active thermography and artificial neural network
    Autorzy:
    Dudzik, S.
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    termografia aktywna
    sieć neuronowa
    wyznaczanie głębokości defektu
    active thermography
    artificial neural network
    defect depth estimation
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Use Of Pulsed IR Thermography For Determination Of Size And Depth Of Subsurface Defect Taking Into Account The Shape Of Its Cross-Section Area
    Zastosowanie impulsowej termografii podczerwieni do szacowania wielkości i położenia defektów podpowierzchniowych z uwzględnieniem kształtu ich przekrojów poprzecznych
    Autorzy:
    Wysocka-Fotek, O.
    Maj, M.
    Oliferuk, W.
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    pulsed IR thermography
    defect size
    defect depth
    cross-section shape of defect
    termografia impulsowa w podczerwieni
    rozmiar defektu
    głębokość defektu
    kształt przekroju poprzecznego defektu
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Use Of Pulsed IR Thermography For Determination Of Size And Depth Of Subsurface Defect Taking Into Account The Shape Of Its Cross-Section Area
    Autorzy:
    Wysocka-Fotek, O.
    Maj, M.
    Oliferuk, W.
    Data publikacji:
    2015
    Słowa kluczowe:
    pulsed IR thermography
    defect size
    defect depth
    cross-section shape of defect
    termografia impulsowa w podczerwieni
    rozmiar defektu
    głębokość defektu
    kształt przekroju poprzecznego defektu
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    In-depth and in-plane profiling of light emission properties from semiconductor-based heterostructures
    Autorzy:
    Godlewski, M.
    Wojtowicz, T.
    Goldys, E. M.
    Phillips, M. R.
    Czernecki, R.
    Prystawko, P.
    Leszczynski, M.
    Perlin, P.
    Grzegory, I.
    Porowski, S.
    Bottcher, T.
    Figge, S.
    Hommel, D.
    Data publikacji:
    2004
    Słowa kluczowe:
    semiconductors
    heterostructures
    cathodoluminescence
    depth profiling
    defect distribution
    laser emission analysis
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-10 z 10

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies