Temat: dielectric methods - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Water content measurement in building barriers and materials using surface TDR probe
Autorzy:: Suchorab, Z.
Jedut, A.
Sobczuk, H.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: building materials
building barriers
building envelopes
moisture
reflectometric moisture measurement methods
dielectric methods
time domain reflectometry
surface TDR probe
materiały budowlane
wilgotność przegród budowlanych
reflektometryczne metody pomiaru wilgotności
metody dielektryczne
Time Domain Reflectometry
sonda powierzchniowa TDR; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: The Application of the Mechanochemical Synthesis for the Preparation of Advanced Ceramics Based on Barium Titanate
Autorzy:: Garbarz-Glos, B.
Bąk, W.
Budziak, A.
Dulian, P.
Lisińska-Czekaj, A.
Czekaj, D.
Data publikacji:: 2020
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: BaTiO3
mechanochemical synthesis
X-ray methods
dielectric properties; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: The Application of the Mechanochemical Synthesis for the Preparation of Advanced Ceramics Based on Barium Titanate
Autorzy:: Garbarz-Glos, B.
Bąk, W.
Budziak, A.
Dulian, P.
Lisińska-Czekaj, A.
Czekaj, D.
Data publikacji:: 2020
Słowa kluczowe:: BaTiO3
mechanochemical synthesis
X-ray methods
dielectric properties; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Study of phase transition in Bi3TiNbO9-BaBi2Nb2O9 ceramics
Autorzy:: Adamczyk, M.
Kusz, J.
Hofmeister, W.
Zubko, M.
Kozielski, L.
Pilch, M.
Bochenek, D.
Wodecka-Duś, B.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: dielectric properties
X-ray methods
grain size
phase transition
ceramics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Study of phase transition in Bi3TiNbO9-BaBi2Nb2O9 ceramics
Autorzy:: Adamczyk, M.
Kusz, J.
Hofmeister, W.
Zubko, M.
Kozielski, L.
Pilch, M.
Bochenek, D.
Wodecka-Duś, B.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: dielectric properties
X-ray methods
grain size
phase transition
ceramics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Comparison of methods applied to measuring the lightning impulse breakdown voltage of insulating pressboard impregnated with mineral oil and natural ester
Autorzy:: Klarecki, Artur
Rózga, Paweł
Stuchała, Filip
Data publikacji:: 2021
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: lightning impulse voltage
high voltage
measurement methods
dielectric liquids
insulating pressboard
Weibull distribution; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Comparison of methods applied to measuring the lightning impulse breakdown voltage of insulating pressboard impregnated with mineral oil and natural ester
Autorzy:: Klarecki, Artur
Rózga, Paweł
Stuchała, Filip
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: lightning impulse voltage
high voltage
measurement methods
dielectric liquids
insulating pressboard
Weibull distribution; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Electromagnetic scattering by dielectric bodies
Autorzy:: Kucharski, A. A.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: rozpraszanie fal elektromagnetycznych
obiekty dielektryczne
równania całkowe
metoda momentów
electromagnetic scattering
dielectric bodies
integral equations
moment methods
multilayer media; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Badanie wybranych warstw optycznych mikroskopem sił atomowych i metodami komplementarnymi.
Autorzy:: Ciosek, J.
Pankowski, P.
Paszkowicz, W.
Pełka, J.B.
Marczak, J.
Ostrowski, R.
Baczewski, L.T.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: warstwa optyczna
mikroskop sił atomowych
metody komplementarne
dielektryczne warstwy z materiałów tlenkowych
mikrostruktura
optical-layers
atomic force microscopy (AFM)
complementary methods
dielectric oxide layers
microstructure; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja