- Tytuł:
-
Materiały Elektroniczne 1987 nr 2(58)
Metody ilościowej mikroanalizy rent5geowskiej cienkich warstw na podłożach = Correction methods in quantitative electron probe X-ray microanalysis of thin coatings
Metody ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej cienkich warstw na podłożach - Autorzy:
- Sikorski Krzysztof
- Współwytwórcy:
- Szummer Andrzej
- Data publikacji:
- 1987
- Wydawca:
- Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
- Słowa kluczowe:
-
thin layer
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
Electronic materials
thin layer technology
electron probe X-ray microanalysis
warstwa cienka
mikroanaliza rentgenowska
Electronic - journal - material - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
