Temat: electronic characterization

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Effect of oxidation and mechanical damage of PCBs with OSP finish on their solderability with SAC305 alloy
Wpływ utleniania i uszkodzeń mechanicznych powierzchni płytek PCB z pokryciem OSP na ich lutowność stopem SAC305
Autorzy:: Kudyba, A.
Siewiorek, A.
Sobczak, N.
Turalska, P.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Odlewnictwa
Tematy:: surfaces
coatings
electronic characterization
defects
surface properties
solderability
wetting balance test
powłoki
wady
właściwości powierzchni
lutowność
badania meniskograficzne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Effect of oxidation and mechanical damage of PCBs with OSP finish on their solderability with SAC305 alloy
Autorzy:: Kudyba, A.
Siewiorek, A.
Sobczak, N.
Turalska, P.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: surfaces
coatings
electronic characterization
defects
surface properties
solderability
wetting balance test
powłoki
wady
właściwości powierzchni
lutowność
badania meniskograficzne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Multichannel readout system for registration of electronic system temperature response with high temporal resolution
Autorzy:: Janicki, M.
Kulesza, Z.
Pietrzak, P.
Napieralski, A.
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: termiczna charakterystyka systemów elektronicznych
rzeczywisty czas równoległych pomiarów przetwarzania danych
thermal characterization of electronic systems
real time parallel measurement data processing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Multichannel readout system for registration of electronic system temperature response with high temporal resolution
Autorzy:: Janicki, M.
Kulesza, Z.
Pietrzak, P.
Napieralski, A.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: termiczna charakterystyka systemów elektronicznych
rzeczywisty czas równoległych pomiarów przetwarzania danych
thermal characterization of electronic systems
real time parallel measurement data processing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: The lowest-lying Rydberg state of CdAr van der Waals complex : the improved characterization of the interatomic potential
Autorzy:: Urbańczyk, Tomasz
Koperski, Jarosław
Sobczuk, Joanna
Data publikacji:: 2022
Słowa kluczowe:: vibrational characterization
potential barrier
van der Waals CdAr complex
Rydberg electronic state
free - bound transitions
optical-optical double resonance (OODR); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

Szczegóły

Informacja