Temat: electronic embedded systems

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
Application of fuzzy logic to fault diagnosis of analog parts in electronic embedded systems
Autorzy:: Czaja, Z.
Załęski, D.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: diagnostyka uszkodzeń
BIST
logika rozmyta
mikrokontrolery
elektroniczne systemy wbudowane
fault diagnosis
fuzzy logic
microcontrollers
electronic embedded systems; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
Autorzy:: Czaja, Z.
Załęski, D.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: diagnostyka uszkodzeń
BIST
logika rozmyta
mikrokontrolery
elektroniczne systemy wbudowane
fault diagnosis
fuzzy logic
microcontrollers
electronic embedded systems; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Fault localization in analog parts of embedded electronic systems taking into account tolerances of elements
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: detekcja i lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localization
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
Autorzy:: Czaja, Z.
Załęski, D.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localisation
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localization
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
Autorzy:: Załęski, D.
Bartosiński, B.
Zielonko, R.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: testowanie
elektroniczne systemy wbudowane
sygnały komplementarne
projektowanie kształtu sygnału
mikrokontrolery
testing
electronic embedded systems
complementary signals
shape design of signals
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
The new application of shape-designed complementary signals for diagnostic of electronic embedded systems
Autorzy:: Załęski, D.
Bartosiński, B.
Zielonko, R.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: testowanie
elektroniczne systemy wbudowane
sygnały komplementarne
projektowanie kształtu sygnału
mikrokontrolery
testing
electronic embedded systems
complementary signals
shape design of signals
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Dynamiczna rekonfiguracja wątków w systemach czasu rzeczywistego pracujacych w warunkach pełnej powtarzalności czasowej
Autorzy:: Pułka, A.
Milik, A.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: systemy czasu rzeczywistego
elektroniczne systemy wbudowane
powtarzalność czasowa
przetwarzanie potokowe
systemy wielozadaniowe
przetwarzanie informacji
real-time systems
electronic embedded systems
timing repeatability
multitasking systems
multithread processing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Strategia weryfikacji systemu na chipie oparta na mechaniźmie FDL
Autorzy:: Pułka, A.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: elektroniczne systemy wbudowane
weryfikacja formalna
przetwarzanie informacji niepełnej i niepewnej
asercja
SystemVerilog
electronic embedded systems
formal verification
incomplete and imprecise information handling
assertions; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Timing analysis of multitask systems in SystemC environment
Autorzy:: Golly, Ł.
Pułka, A.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: systemy czasu rzeczywistego
elektroniczne systemy wbudowane
analiza czasowa
systemy wielozadaniowe
wielowątkowe przetwarzanie informacji
przetwarzanie potokowe
real-time systems
electronic embedded systems
timing analysis
multitasking systems
multithread processing
pipeline processing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "electronic embedded systems" wg kryterium: Temat