Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "electronic parameter" wg kryterium: Temat


Tytuł:
Numeryczne metody określania parametrów cienkich warstw magnetycznych granatów
Numeryczne metody określania parametrów cienkich warstw magnetycznych granatów = The method of calculation of magnetic anisotropy constants in YIG layer
Materiały Elektroniczne 1995 T.23 nr 2
Autorzy:
Jabłoński Ryszard
Data publikacji:
1995
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
Electronic - journal - materials
FMR
parametry magnetyczne
YIG
Elektronika - czasopismo - materiały
magnetic parameter
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Określenie parametrów elektrycznych epitaksjalnych warstw arsenofosforku galu osadzonych na podłożach GaAs
Materiały Elektroniczne 1977 nr 4(20)
Określenie parametrów elektrycznych epitaksjalnych warstw arsenofosforku galu osadzonych na podłożach GaAs = Determination of electrical properties for epitaxial GaAs1-P on the GaAs substrates
Autorzy:
Kot Waldemar
Współwytwórcy:
Nowysz Karol
Strzelecka Stanisława
Data publikacji:
1977
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:
warstwa epitaksjalna
GaAsP
epitaxial layer
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
electrical parameter
parametr elektryczny
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Research of management efficiency designer preproduction by method of analysis of hierarchies of electronic vehicles
Issledovanie ehffectivnosti upravlenija konstruktorskojj podgotovkojj proizvodstva ehlektronnykh apparatov metodom analiza ierarkhijj
Autorzy:
Smoliy, V.
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Komisja Motoryzacji i Energetyki Rolnictwa
Tematy:
management efficiency
decision making
electronic vehicle
mathematical model
economic parameter
cost effectiveness
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1992 T.20 nr 3
Metody charakteryzacji półizolacyjnych monokryształów GaAs = Methods of semi-insulating GaAs monocrystals characterisation
Metody charakteryzacji półizolacyjnych monokryształów GaAs
Autorzy:
Strzelecka Stanisława
Współwytwórcy:
Jurkiewicz-Wegner, Elżbieta.
Jurkiewicz-Wegner Elżbieta
Hruban Andrzej
Piersa Mirosław
Gładysz Maria
Data publikacji:
1992
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
electrical parameter
parametry elektryczne
SI GaAs
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Optikoehlektronnaja sistema dlja izmerenija morfometricheskikh parametrov ryby prjamym metodom
System optoelektroniczny do pomiarów parametrów morfometrycznych ryb metodą bezposrednią
Opticoelectronic system for measuring parameters morphometric of fish by a direct method
Autorzy:
Fatychov J. A.
Ageev O. V.
Dutkiewicz D.
Tematy:
fish
morphometric parameter
laser scanner
fish processing
machine control
optical system
electronic system
Pokaż więcej
Dostawca treści:
AGRO
Artykuł
Tytuł:
Optikoehlektronnaja sistema dlja izmerenija morfometricheskikh parametrov ryby prjamym metodom
System optoelektroniczny do pomiarów parametrów morfometrycznych ryb metodą bezposrednią
Opticoelectronic system for measuring parameters morphometric of fish by a direct method
Autorzy:
Fatychov, J.A.
Ageev, O.V.
Dutkiewicz, D.
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Inżynierii i Techniki Przetwórstwa Spożywczego Spomasz; Politechnika Koszalińska. Katedra Procesów i Urządzeń Przemysłu Spożywczego
Tematy:
fish
morphometric parameter
laser scanner
fish processing
machine control
optical system
electronic system
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Niektóre problemy poprawy parametrów geometrycznych polerowanych płytek krzemowych = Some problems of improvement of geometrical parameters of polished silicon wafers
Niektóre problemy poprawy parametrów geometrycznych polerowanych płytek krzemowych
Prace ONPMP 1978 z. 2
Proceedings of ONPMP 1978 z. 2
Autorzy:
Piątkowski Bronisław
Współwytwórcy:
Bielecki Krzysztof
Czerwińska Anna
Data publikacji:
1978
Wydawca:
Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:
parametr geometryczny
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
Electronic materials
geometrical parameter
polished silicon wafer
polerowana płytka krzemowa
Electronic - journal - material
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies