- Tytuł:
- Application of electrostatic force microscopy in nanosystem diagnostics
- Autorzy:
-
Gotszalk, T. P.
Grabiec, P.
Rangelow, I. W. - Data publikacji:
- 2003
- Słowa kluczowe:
-
electrostatic force microscopy
nanosystem
voltage distribution
capacitance - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech