- Tytuł:
- MPS(3N) transparent memory test for Pattern Sensitive Fault detection
- Autorzy:
-
Mrozek, I.
Busłowska, E.
Sokół, B. - Data publikacji:
- 2008
- Słowa kluczowe:
-
transparent memory tests
memory testing
pattern sensitive faults
march tests - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech