- Tytuł:
- The unique combined Confocal Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy and AFM : study of (100) GaSb passivated surface
- Autorzy:
-
Papis-Polakowska, E.
Kowalczyk, A.
Tchaya, M.
Schmidt, U.
Kaniewski, J. - Data publikacji:
- 2014
- Słowa kluczowe:
-
mikroskop RISE
Skaningowa Mikroskopia Elektronowa
spektroskopia Ramana
GaSb
Tiol
RISE microscope
Scanning microscopy
Raman spectroscopy
Thiol - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł