- Tytuł:
- Metodyka doboru parametrów i struktury wielopunktowego systemu pomiarowego do tomografii impedancyjnej
- Autorzy:
- Oskwarek, Ł.
- Data publikacji:
- 2004
- Słowa kluczowe:
-
tomografia impedancyjna
rozkład konduktywności
wielopunktowy system pomiarowy
niepewność pomiaru
electrical impedance tomography
conductivity distribution
multi-point measurement system
results uncertainty - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł