- Tytuł:
- Przygotowanie mikroskopu sił atomowych do pomiarów nanochropowatości powierzchni rozpylanej jonami : wstęp do analizy fraktalnej
- Autorzy:
-
Marendziak, A.
Gotszalk, T.
Rangelow, I. W.
Wilk, J.
Kowalski, Z. W. - Data publikacji:
- 2005
- Słowa kluczowe:
-
mikroskop sił atomowych
nanochropowatość
rozpylanie jonowe
atomic force microscope
nanoroughness
ion sputtering - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech