- Tytuł:
- X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of a-Si:H/.mu.c-Si:H supperlattice structure
- Autorzy:
-
Kołodziej, A.
Baranowski, W.
Kusior, E.
Kanak, J. - Data publikacji:
- 2011
- Słowa kluczowe:
-
X-ray, atomic force microscopy (AFM)
UV-VIS-IR analysis
nc-Si:H multilayer structure - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł