Temat: parameter and equation monitoring

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Adaptive EPFL-EKV Long and Short Channel MOS Device Models for Qucs, SPICE and Modelica Circuit Simulation
Autorzy:: Brinson, M. E.
Nabijou, H.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: model adaptacyjny MOS
Qucs
SPICE
Modelica
monitoring parametru
adaptive MOS models
equation-defined device modelling
Verilog-A
EPFL-EKV MOS-FET model
parameter and equation monitoring
EPFL-EKV MOS-FET; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Adaptive EPFL-EKV Long and Short Channel MOS Device Models for Qucs, SPICE and Modelica Circuit Simulation
Autorzy:: Brinson, M. E.
Nabijou, H.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: model adaptacyjny MOS
Qucs
SPICE
Modelica
monitoring parametru
adaptive MOS models
equation-defined device modelling
Verilog-A
EPFL-EKV MOS-FET model
parameter and equation monitoring
EPFL-EKV MOS-FET; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Application of model-based failure detection and identification to industrial production
Autorzy:: Schubert, U.
Arellano-Garcia, H.
Wozny, G.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: kontrola
monitoring procesu
równanie cząstkowe
szacowanie parametrów
identyfikacja awarii
wykrywanie awarii
failure detection and identification
parameter estimation
parity equation
process monitoring
supervision; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja