Temat: parametric faults - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: The parametric fault detection algorithm in electronic circuits based in bilinear transformation
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: bilineary transformation
parametric faults
detecting single parametric faults; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Soft Fault Clustering in Analog Electronic Circuits with the Use of Self Organizing Neural Network
Autorzy:: Grzechca, D.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: fault detection
parametric faults
analogue electronic circuits
self-organizing neural network; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Soft Fault Clustering in Analog Electronic Circuits with the Use of Self Organizing Neural Network
Autorzy:: Grzechca, D.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: fault detection
parametric faults
analogue electronic circuits
self-organizing neural network; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Ewolucyjna metoda diagnozowania wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych
Autorzy:: Korzybski, M.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: układy elektryczne
algorytmy genetyczne
uszkodzenia parametryczne
uszkodzenia katastroficzne
electric circuit
parametric faults
catastrofic faults
genetic algorithm
diagnosis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych
Autorzy:: Jantos, P.
Grzechca, D.
Golonek, T.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: analogowy układ scalony
globalne uszkodzenia parametryczne
testowanie
analogue integrated circuits
global parametric faults
testing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Wykorzystanie algorytmu PSO w diagnostyce analogowych układów elektronicznych
Autorzy:: Kyzioł, P.
Rutkowski, J.
Grzechca, D.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: particle swarm optimization
PSO
testowanie
uszkodzenia parametryczne
particle swarm optimization (PSO)
parametric faults
CUT; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: On-chip Parametric Test of R-2R Ladder Digital-to-Analog Converter and Its Efficiency
Autorzy:: Arbet, D.
Stopjakova, V.
Brenkus, J.
Gyepes, G.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: wykrywanie uszkodzeń
uszkodzenie katastroficzne
uszkodzenia parametryczne
test parametryczny
mieszany test sygnału
fault detection
catastrophic faults
parametric faults
on-chip parametric test
mixed-signal test; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: On-chip Parametric Test of R-2R Ladder Digital-to-Analog Converter and Its Efficiency
Autorzy:: Arbet, D.
Stopjakova, V.
Brenkus, J.
Gyepes, G.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: wykrywanie uszkodzeń
uszkodzenie katastroficzne
uszkodzenia parametryczne
test parametryczny
mieszany test sygnału
fault detection
catastrophic faults
parametric faults
on-chip parametric test
mixed-signal test; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Active fault diagnosis based on stochastic tests
Autorzy:: Poulsen, N. K.
Niemann, H.
Data publikacji:: 2008
Wydawca:: Uniwersytet Zielonogórski. Oficyna Wydawnicza
Tematy:: diagnostyka uszkodzeń
wykrywanie zmian
obwód zamknięty
parametryzacja
active fault diagnosis
parametric faults
stochastic change detection
closed loop systems
parametrization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Active fault diagnosis based on stochastic tests
Autorzy:: Poulsen, N. K.
Niemann, H.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: diagnostyka uszkodzeń
wykrywanie zmian
obwód zamknięty
parametryzacja
active fault diagnosis
parametric faults
stochastic change detection
closed loop systems
parametrization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "parametric faults" wg kryterium: Temat