Temat: photoinduced spectroscopy

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wpływ szerokości pasma przenoszenia przetwornika konduktancyjno-napięciowego na dokładność wyznaczania parametrów centrów defektowych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej
Autorzy:: Pawłowski, M.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: spektroskopia fotoprądowa PITS
błąd dynamiczny
photoinduced transient spectroscopy (PITS)
dynamic error; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Zastosowanie procedury korelacyjnej z wieloimpulsowymi funkcjami wagowymi do dwuwymiarowej analizy widmowej w niestacjoarnej spektroskopii fotoprądowej PITS
Autorzy:: Pawłowski, M.
Miczuga, M.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: funkcja wagowa
spektroskopia fotoprądowa PITS
weighting function
photoinduced transient spectroscopy (PITS); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Dwuwymiarowość widm w niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej =Two-dimensional spectra in photoinduced transient spectroscopy
Materiały Elektroniczne 2000 T.28 nr 1/2
Dwuwymiarowość widm w niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej
Autorzy:: Pawłowski Michał
Data publikacji:: 2000
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: two-dimensional spectra
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
spektroskopia fotoprądowa
photoinduced spectroscopy
dwuwymiarowość widm
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Zastosowanie metod inteligencji obliczeniowej do analizy struktury defektowej półprzewodników wysokorezystywnych
Autorzy:: Jankowski, S.
Kamiński, P.
Kozłowski, R.
Szymański, R.
Będkowski, J.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: maszyna wektorów nośnych SVM
maszyna wektorów istotnych RVM
niestacjonarna spektroskopia fotoprądowa PITS
centra defektowe
materiały półizolujące
support vector machine (SVM)
relevance vector machine RVM
photoinduced transient spectroscopy (PITS)
defect centres
semi-insulating materials; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: On the microstructural origin of reversible photoinduced transformations in amorphus As₂Se₃
Autorzy:: Shpotyuk, O. I.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: amorphous semiconductors
photoinduced changes
IR Fourier spectroscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Zastosowanie transformacji Hougha do analizy dwuwymiarowych widm PITS
Implementation of the Hough transformation to the analysis of two-dimensional PITS spectra
Autorzy:: Pawłowski, M.
Data publikacji:: 2006
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:: metoda niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej
analiza dwuwymiarowych widm PITS
rozpoznawanie obrazów
zastosowanie transformacji Hough'a
analiza korelacyjna powierzchni widmowej
wyznaczanie parametrów centrów defektowych
materiał wysokorezystywny
photoinduced transient spectroscopy
pattern recognition
high-resistivity materials
implementation of the Hough transformation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Zastosowanie transformacji Hough'a do analizy dwuwymiarowych widm PITS
Autorzy:: Pawłowski, M.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: metoda niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej
analiza dwuwymiarowych widm PITS
rozpoznawanie obrazów
zastosowanie transformacji Hough'a
analiza korelacyjna powierzchni widmowej
wyznaczanie parametrów centrów defektowych
materiał wysokorezystywny
photoinduced transient spectroscopy
pattern recognition
high-resistivity materials
implementation of the Hough transformation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja