Temat: photothermal radiometry

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Minority carrier recombination lifetimes in n-type CdMgSe mixed crystals measured by means of the photothermal infrared radiometry
Autorzy:: Pawlak, M.
Maliński, M.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: CdMgSe mixed crystals
minority carrier diffusion length
minority recombination lifetime
photothermal radiometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Metody fototermiczne i ich zastosowania - Wykład inauguracyjny roku akademickiego 2019/2020 na Wydziale Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Autorzy:: Maliński, Mirosław
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: fotoakustyka
metoda fototermiczna
modulowana absorpcja
swobodne nośniki
metoda piezoelektryczna
radiometria fototermiczna
photoacoustics
photothermal method
modulated free carrier absorption
piezoelectric method
photothermal radiometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Metody fototermiczne i ich zastosowania - Wykład inauguracyjny roku akademickiego 2019/2020 na Wydziale Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Autorzy:: Maliński, Mirosław
Data publikacji:: 2019
Wydawca:: Politechnika Koszalińska. Wydawnictwo Uczelniane
Tematy:: fotoakustyka
metoda fototermiczna
modulowana absorpcja
swobodne nośniki
metoda piezoelektryczna
radiometria fototermiczna
photoacoustics
photothermal method
modulated free carrier absorption
piezoelectric method
photothermal radiometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Badania wybranych materiałów optoelektronicznych z wykorzystaniem fototermicznej radiometrii w podczerwieni
Autorzy:: Chrobak, Ł.
Maliński, M.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: badania nieniszczące
radiometria w podczerwieni
krzem
krzemogerman
nondestructive testing
photothermal infrared radiometry
silicon
silicon-germanium; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Obrazowanie obszarów implantowanych w materiałach półprzewodnikowych z wykorzystaniem nieniszczącej techniki radiometrii w podczerwieni
Autorzy:: Chrobak, Ł.
Maliński, M.
Data publikacji:: 2017
Słowa kluczowe:: badania nieniszczące
radiometria w podczerwieni
krzem
parametry rekombinacyjne
czas życia nośników
implantacja jonowa
obrazowanie
nondestructive testing
photothermal radiometry
silicon
recombination parameters
minority carrier lifetime
ion implantation
visualization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja