- Tytuł:
-
Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
Tolerance problem in testing of fully differential electronic circuits - Autorzy:
- Toczek, W.
- Data publikacji:
- 2008
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
- Tematy:
-
układ analogowy
testowanie
układy w pełni różnicowe
model probabilistyczny testu
ocena ryzyka
analog circuit testing
fully differential circuits
probabilistic model for test
risk evaluation - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł