- Tytuł:
- Antirandom Test Vectors for BIST in Hardware/Software Systems
- Autorzy:
-
Mrozek, I.
Yarmolik, V. - Data publikacji:
- 2012
- Słowa kluczowe:
-
antirandom testing
failure pattern
random testing
software testing
hardware testing - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech