Temat: samotestowanie wbudowane

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wbudowane samotestowanie specjalizowanych urządzeń sterowania ruchem drogowym
Autorzy:: Firląg, K.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: sterownik ruchu
sterowniki specjalizowane
samotestowanie wbudowane
układ programowalny
control device
specialized device
BIST
built-in self-test
programmable logic devices; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Techniki zmniejszania poboru mocy wykorzystywane podczas wbudowanego samotestowania
Autorzy:: Puczko, M.
Murashko, I.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: niski pobór mocy
test-per-clock
wbudowane samotestowanie
przerzutnik -T-D
low power
flip-flop-T-D
BIST; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Zmniejszanie poboru mocy w samotestujących układach cyfrowych
Low power in BIST
Autorzy:: Puczko, M.
Murashko, I.
Yarmolik, S. V.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: niski pobór mocy
test-per-clock
wbudowane samotestowanie
przerzutnik -T
przerzutnik D
low power BIST
flip-flop-T-D
BIST; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Zmniejszanie poboru mocy w samotestujących układach cyfrowych
Autorzy:: Puczko, M.
Murashko, I.
Yarmolik, S. V.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: niski pobór mocy
test-per-clock
wbudowane samotestowanie
przerzutnik -T
przerzutnik D
low power BIST
flip-flop-T-D
BIST; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Metody samotestowania specjalizowanych urządzeń sterowania ruchem drogowym
Autorzy:: Firląg, K.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: specjalizowane urządzenia sterowania ruchem drogowym
testowanie sterowników lokalnych
wbudowane samotestowanie
pecialized traffic control devices
testing traffic controllers
built-in self-test; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Testowanie uszkodzeń w połączeniach z wykorzystaniem sygnaturowego słownika diagnostycznego o zredukowanym rozmiarze
Autorzy:: Garbolino, T.
Gucwa, K.
Hławiczka, A.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: testowanie połączeń
wbudowane samotestowanie
rejestr pierścieniowy
sygnatura
sygnaturowy słownik diagnostyczny
interconnect test
BIST
interconnect BIST
IBIST
ring LFSR
signature
diagnostic dictionary; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Analiza maskowania zwarć w sieci połączeń przez rejestr MISR
Autorzy:: Garbolino, Tomasz
Data publikacji:: 2024
Słowa kluczowe:: wbudowane samotestowanie połączeń
rejestr MISR
kompakcja
maskowanie błędów
maskowanie uszkodzeń
Interconnect Built-In Self-Test
IBIST
multi-input signature registe
MISR
compaction
error aliasing
fault masking; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Fault localization in analog parts of embedded electronic systems taking into account tolerances of elements
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: detekcja i lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localization
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
Autorzy:: Czaja, Z.
Załęski, D.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localisation
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localization
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "samotestowanie wbudowane" wg kryterium: Temat