Temat: scanning capacitance microscopy

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Badanie elektrycznych właściwości powierzchni heterostruktur AlGaN/GaN/Si techniką skaningowej mikroskopii pojemnościowej
Autorzy:: Szyszka, A.
Szymański, T.
Tłaczała, M.
Wośko, M.
Paszkiewicz, R.
Data publikacji:: 2017
Słowa kluczowe:: SCM
skaningowa mikroskopia pojemnościowa
AlGaN/GaN/Si
azotek galu
C-V
scanning capacitance microscopy
gallium nitride; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Badanie elektrycznych właściwości powierzchni heterostruktur AlGaN/GaN/Si technikami mikroskopii ze skanującą sondą i oświetleniem
Autorzy:: Szyszka, Adam
Wośko, Mateusz
Paszkiewicz, Regina
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: azotek galu
AlGaN/GaN
skaningowa mikroskopia pojemnościowa
skaningowa mikroskopia potencjału powierzchniowego
SCM
SSPM
SPM
gallium nitride
AlGaN/GaN/Si
scanning potential microscopy
scanning capacitance microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Zintegrowany układ oświetlenia próbki do mikroskopu ze skanującą sondą
Autorzy:: Szyszka, A.
Paszkiewicz, R
Szymański, T.
Tłaczała, M.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: mikroskop ze skanującą sondą
skaningowa mikroskopia pojemnościowa
skaningowa mikroskopia potencjału powierzchniowego
skaningowa mikroskopia rezystancji rozproszonej
AlGaN/GaN/Si
Scanning Probe Microscope
scanning spreading resistance microscopy (SSRM)
scanning potential microscopy
scanning capacitance microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Scanning capacitance microscopy characterization of AIIIBV epitaxial layers
Autorzy:: Szyszka, A.
Obłąk, M.
Szymański, T.
Wośko, M.
Dawidowski, W.
Paszkiewicz, R.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: scanning
capacitance
microscopy
SCM
atomic force microscopy (AFM)
GaAs
InGaAs
AlGaN/GaN; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja