Temat: scanning probe microscopy

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems
Autorzy:: Świadkowski, Bartosz
Piasecki, Tomasz
Rudek, Maciej
Świątkowski, Michał
Gajewski, Krzysztof
Majstrzyk, Wojciech
Babij, Michał
Dzierka, Andrzej
Gotszalk, Teodor
Data publikacji:: 2020
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: Scanning probe microscopy
AFM
Kelvin Probe force microscopy
scanning tunnelling microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems
Autorzy:: Świadkowski, Bartosz
Piasecki, Tomasz
Rudek, Maciej
Świątkowski, Michał
Gajewski, Krzysztof
Majstrzyk, Wojciech
Babij, Michał
Dzierka, Andrzej
Gotszalk, Teodor
Data publikacji:: 2020
Słowa kluczowe:: Scanning probe microscopy
AFM
Kelvin Probe force microscopy
scanning tunnelling microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Scanning probe microscopy as a metrology method in micro- and nanostructure investigations
Autorzy:: Gotszlak, T.
Marendziak, A.
Kolanek, K.
Szeloch, R.
Grabiec, P.
Zaborowski, M.
Janus, P.
Rangelow, I.W.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: scanning probe microscopy
micro- and nanostructure investigations; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Characterization of the native oxide on CdTe surfaces
Autorzy:: Sobola, Dinara
Kaspar, Pavel
Nebojsa, Alois
Hemzal, Dušan
Grmela, Lubomír
Smith, Steve
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: selective etching
scanning probe microscopy
ellipsometry
Raman spectroscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Adsorption of large organic molecules on clean and hydroxylated rutile TiO2(110) surfaces
Autorzy:: Szymoński, Marek
Budzioch, Janusz
Gourdon, Andre
Tekiel, Antoni
Godlewski, Szymon
Prauzner-Bechcicki, Jakub
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: semiconductors
adsorption
scanning probe microscopy
conformation analysis
single-molecule studies; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Controlled reorientation of CuPc molecules in ordered structures assembled on the TiO(2)(011)-(2x1) surface
Autorzy:: Szymoński, Marek
Budzioch, Janusz
Tekiel, Antoni
Godlewski, Szymon
Prauzner-Bechcicki, Jakub
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: adsorption
scanning probe microscopy
thin films
self-assembly
titanium dioxide; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Fabrication of micro- and nanostructures by scanning probe microscopy. Local anodic oxidation
Autorzy:: Kolanek, K.
Gotszalk, T.
Zielony, M.
Grabiec, P.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: local anodic oxidation
nanolithography
scanning probe microscopy
atomic force microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: [11]Anthrahelicene on InSb(001) c(8×2): a low-temperature scanning probe microscopy study
Autorzy:: Stará, Irena, G.
Goryl, Grzegorz
Budzioch, Janusz
Szymoński, Marek
Prauzner-Bechcicki, Jakub
Sehnal, Petr
Godlewski, Szymon
Starý, Ivo
Joachim, Christian
Walczak, Łukasz
Ample, Francisco
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: semiconducting surfaces
surface chemistry
helical structures
scanning probe microscopy
chirality; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Polymerization of polyanthrylene on a titanium dioxide (011)-(2×1) surface
Autorzy:: Kolmer, Marek
Prauzner-Bechcicki, Jakub
Godlewski, Szymon
Szymoński, Marek
Zebari, Amir A. Ahmad
Sojka, Zbigniew
Zasada, Filip
Piskorz, Witold
Such, Bartosz
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: polymerization
rutile titanium dioxide
nanotechnology
scanning probe microscopy
surface chemistry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Diagnostyka materiałów i układów mikro- i nanolektronicznych metodami modularnej mikroskopii bliskich oddziaływań
Autorzy:: Gotszalk, T.
Radojewski, J.
Szeloch, R.
Marendziak, A.
Sikora, A.
Hasek, T.
Kolanek, K.
Grabiec, P.
Rangelow, I.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: mikrosystemy
nanotechnologia
mikroskopia bliskich oddziaływań
scanning probe microscopy
atomic force microscope
AFM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "scanning probe microscopy" wg kryterium: Temat