Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "secondary electron detection" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-6 z 6
    Tytuł:
    Quantitative characterization of surface topography in scanning electron microscopy.
    Autorzy:
    Słówko, W.
    Drzazga, W.
    Klubiński, G.
    Data publikacji:
    2002
    Słowa kluczowe:
    badania ilościowe
    topografia powierzchni
    skaningowy mikroskop elektronowy
    wielokanałowy układ detekcyjny
    kierunkowa detekcja elektronów wtórnych
    przetwarzanie uzyskanego sygnału
    wysokość
    nachylenie
    quantitative characterization
    surface topography
    scanning electron microscopy
    multichannel system
    directional detection of secondary electrons
    processing of the signal
    height
    side slopes
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-6 z 6

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies