Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "secondary electron emission" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Szkło jako obiekt zainteresowania chemików analityków. Cz. I - szkło i metody badania jego składu
    Autorzy:
    Nowak, A.
    Wagner, B.
    Bulska, E.
    Data publikacji:
    2009
    Słowa kluczowe:
    szkło
    analiza promieniowania X wzbudzanego cząstkami
    analiza promieniowania gamma wzbudzanego protonami
    neutronowa analiza aktywacyjna
    spektrometria mas jonów wtórnych
    skaningowa mikroskopia elektronowa z mikrsondą rentgenowską
    spektrometria mas z jonizacją w plazmie indukcyjnej sprzężonej po ablacji laserowej
    analiza chemiczna
    chemia analityczna
    glass
    particle induced X-Ray emission
    PIXE
    Particle Induced Gamma-Ray Emission
    PIGE
    neutron activation analysis
    NAA
    secondary ion mass spectrometry
    SIMS
    scanning electron microscopy energy dispersive X-ray spectrometry
    SEM-EDS
    Laser Ablation Indutively Coupled Plasma Mass Spectrometry
    LA IPC MS
    chemical analysis
    analytical chemistry
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies