Temat: secondary ion mass spectrometry with flight of time analyzer

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Zastosowanie spektrometrii mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu (TOF-SIMS) do badań odporności korozyjnej warstw konwersyjnych wytworzonych działaniem chromu(III) na powłoki cynkowe na stali węglowej
Autorzy:: Rogowski, J.
Socha, M.
Socha, A.
Data publikacji:: 2017
Słowa kluczowe:: spektrometria mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu
TOF-SIMS
chrom(III)
powłoka cynkowa
stal węglowa
odporność korozyjna
secondary ion mass spectrometry with flight of time analyzer
chromium(III)
zinc coating
carbon steel; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Analysis of sterols and prenols in samples of extracellular vesicles by TOF-SIMS mass spectrometry
Analiza pochodnych steroli i prenoli w próbkach pęcherzyków zewnątrzkomórkowych metodą spektrometrii masowej TOF-SIMS
Autorzy:: Babińska, Agnieszka
Słowa kluczowe:: extracellular vesicles (EVs), secondary ion mass spectrometry with a time-of-flight analyzer (TOF-SIMS), sterols, prenoles, cholesterol, Vitamin E
pęcherzyki zewnątrzkomórkowe, spektrometria mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu (TOF-SIMS), sterole, prenole, cholesterol, witamina E; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

Szczegóły

Informacja