Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "shear force" wg kryterium: Temat


Tytuł:
Mikroskopia bliskiego pola Shear Force/sił atomowych z interpretacją wyników poddanych transformacie FFT
Autorzy:
Sikora, A.
Gotszalk, T.
Szeloch, R. F.
Serafińczuk, J.
Jóźwiak, G.
Data publikacji:
2008
Słowa kluczowe:
mikroskopia Shear Force
mikroskopia sił atomowych
mikroskopia bliskiego pola
AFM
analiza powierzchni
transformata Fouriera
shear force microscopy
atomic force microscopy (AFM)
surface analysis
Fourier transforms
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies