- Tytuł:
- Combined shear force - tunneling microscope as a nanometer resolution diagnostic tool for thin oxide films.
- Autorzy:
-
Sikora, A.
Gotszalk, T.
Szeloch, R. - Data publikacji:
- 2007
- Słowa kluczowe:
-
Shear-force microscopy
AFM
tunelling microscopy
oxide layer investigation
shear force microscopy - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech