Temat: sine-fitting algorithms

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Four-Parameter Sine-Fitting Algorithm for Detection and Classification of Transients and Waveform Distortions
Autorzy:: Ramos, P. M.
Radil, T.
Cruz Serra, A.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: power quality
sine-fitting algorithms
mathematical morphology
transients
waveform distortions; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: An algorithm for frequency estimation of a sinusoidal signal
Autorzy:: Augustyn, J.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: wyznaczanie częstotliwości
metody LMS
frequency estimation
LMS methods
fitting sine wave algorithms
step function response; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Szacowanie niepewności aparaturowej w algorytmicznych pomiarach impedancji metodą Monte Carlo
Estimation of the instrument uncertainty in an algorithmic impedance measurements by Monte Carlo method
Autorzy:: Augustyn, J.
Misiowiec, G.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: algorytmy pomiarowe
dopasowanie do sinusoidy
dopasowanie do elipsy
analiza głównych składowych
pomiary składowych impedancji
metoda Monte Carlo
budżet niepewności
measurement algorithms
sine fitting
ellipse fitting
principal component analysis
measurement of impedance components
Monte Carlo method
uncertainty budget; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Szacowanie niepewności aparaturowej w algorytmicznych pomiarach impedancji metodą Monte Carlo
Autorzy:: Augustyn, J.
Misiowiec, G.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: algorytmy pomiarowe
dopasowanie do sinusoidy
dopasowanie do elipsy
analiza głównych składowych
pomiary składowych impedancji
metoda Monte Carlo
budżet niepewności
measurement algorithms
sine fitting
ellipse fitting
principal component analysis
measurement of impedance components
Monte Carlo method
uncertainty budget; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja