Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "specification driven testing" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Analog circuits specification driven testing by the means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily
Autorzy:
Golonek, T.
Chruszczyk, Ł.
Data publikacji:
2020
Słowa kluczowe:
analog electronic circuits
specification driven testing
evolutionary computations
multiple regression
obwód elektroniczny analogowy
test oparty na specyfikacji
obliczenia ewolucyjne
regresja wielokrotna
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies