Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "stechiometry" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1997 T.25 nr 1
Stoichiometry control of compound semiconductor crystals. Part 2 = Kontrola stechiometrii kryształów związków półprzewodnikowych
Autorzy:
Nishizawa Jun-ichi
Współwytwórcy:
Oyama Yutaka
Data publikacji:
1997
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
deep level
stechiometria
InP
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
Electronic - journal - materials
poziom głęboki
stechiometry
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies