Temat: struktura epitaksjalna

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Charakteryzacja wielokanałowego transportu nośników ładunku dla epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych
Autorzy:: Wróbel, Jarosław
Złotnik, Sebastian
Boguski, Jacek
Kojdecki, Marek
Wróbel, Jerzy
Data publikacji:: 2022
Słowa kluczowe:: analiza widma ruchliwości
struktura epitaksjalna
przewodność
mobility spectrum analysis
epitaxial structures
low-bandgap semiconductor
conductivity; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: MST News Poland 4/96
Silicon ball - OSIRIS charge multiplicity filter
Autorzy:: Kordyasz A.J.
Data publikacji:: 1996
Wydawca:: Institute of Electronic Materials Technology
Słowa kluczowe:: warstwa epitaksjalna
detektor krzemowy
struktura n+-n-p+
epitaxial layer
silicon detector
structure n+-n-p+; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Badanie głębokich centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych GaN:Si metodą niestacjonarnej spektroskopii pojemnościowej (DLTS)
Investigation of deep centres in epitaxial GaN:Si by deep level transient spectroscopy (DLTS)
Autorzy:: Kozubal, N.
Data publikacji:: 2006
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:: struktura defektowa półprzewodników
niestacjonarna spektroskopia pojemnościowa
badanie centrów defektowych
warstwa epitaksjalna GaN:Si
wpływ wysokoenergetycznego promieniowania protonowego
promieniowanie protonowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Badanie głębokich centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych GaN:Si metodą niestacjonarnej spektroskopii pojemnościowej (DLTS)
Autorzy:: Kozubal, N.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: struktura defektowa półprzewodników
niestacjonarna spektroskopia pojemnościowa
badanie centrów defektowych
warstwa epitaksjalna GaN:Si
wpływ wysokoenergetycznego promieniowania protonowego
promieniowanie protonowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja