Temat: tapping mode - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Analysis of the tapping mode of the tip in dynamic atomic force microscope
Autorzy:: Majewski, T.
Rymuza, Z.
Chizhik, S.
Pantelei, S.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: AFM
drgania
uderzenia
pomiar dynamiczny własności mechanicznych
vibrations
tapping mode
dynamic measuring mechanical properties; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Imaging system using higher-harmonic in the tapping mode of the ”Terra AFM” microscope
Autorzy:: Pawłowski, S.
Dobiński, G.
Smolny, M.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: atomic force microscope
tapping mode
synchronous detection
phase imaging
mikroskop sił atomowych
tryb kontaktu przerywanego
detekcja synchroniczna
obrazowanie fazowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Imaging system using higher-harmonic in the tapping mode of the ”Terra AFM” microscope
System obrazowania wykorzystujący wyższe harmoniczne w trybie kontaktu przerywanego mikroskopu „Terra AFM”
Autorzy:: Pawłowski, S.
Dobiński, G.
Smolny, M.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: atomic force microscope
tapping mode
synchronous detection
phase imaging
mikroskop sił atomowych
tryb kontaktu przerywanego
detekcja synchroniczna
obrazowanie fazowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Utilization of AFM mapping of surface's mechanical properties in diagnostics of the materials for electrotechnics
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
tryb NanoSwing
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
time-resolved tapping mode
mechanical properties mapping
nanomaterials
material science; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Utilization of AFM mapping of surfaces mechanical properties in diagnostics of the materials for electrotechnics
Wykorzystanie mapowania właściwości mechanicznych powierzchni technikami AFM w diagnostyce materiałów stosowanych w elektrotechnice
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:: mikroskopia sił atomowych
tryb NanoSwing
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
time-resolved tapping mode
mechanical properties mapping
nanomaterials
material science; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Badania mikrostruktury stali CMnAlSi typu TRIP poddanej obróbce cieplnej
Autorzy:: Dryja, M.
Lis, A. K.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: stal TRIP
AFM
metoda półkontaktu
mikroskop skaningowy
trawienie kolorowe
odczynnik La Pera
steel TRIP
tapping mode
scanning electron microscope
colored etching
La Pera’s reagent; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Metoda detekcji amplitudy i fazy w trybie kontaktu przerywanego w dynamicznym mikroskopie sił atomowych
The method of amplitude and phase detection in tapping-mode in dynamic atomic force microscopy
Autorzy:: Pawłowski, S.
Dobiński, G.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: dynamiczny mikroskop sił atomowych
tryb kontaktu przerywanego
szybka transformata Fouriera FFT
detekcja amplitudy i fazy
dynamic atomic force microscopy
tapping-mode
fast Fourier transform (FFT)
amplitude and phase detection; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Metoda detekcji amplitudy i fazy w trybie kontaktu przerywanego w dynamicznym mikroskopie sił atomowych
Autorzy:: Pawłowski, S.
Dobiński, G.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: mikroskop sił atomowych dynamiczny
tryb kontaktu przerywanego
szybka transformata Fouriera FFT
detekcja amplitudy i fazy
dynamic atomic force microscopy
tapping-mode
fast Fourier transform (FFT)
amplitude and phase detection; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja