- Tytuł:
- Badanie numeryczne wpływu imperfekcji technologicznych na obciążenia krytyczne i pracę zakrytyczną cienkich płyt i powłok
- Autorzy:
-
Gołoś, K.
Jachimowicz, J.
Ruszkowski, P.
Techmański, T. - Data publikacji:
- 2002
- Słowa kluczowe:
-
cienka płyta
cienka powłoka
obciążenie krytyczne
praca zakrytyczna
imperfakcje technologiczne
analiza numeryczna
thin boards
thin coats
critical weight
overcritical work
technological imperfactions
numerical analysis - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł