- Tytuł:
-
Materiały Elektroniczne 1974 nr 8
Skaningowy mikroskop elektronowy jako narzędzie badań w technologii materiałów pomocniczych i elementów półprzewodnikowych
Skaningowy mikroskop elektronowy jako narzędzie badań w technologii materiałów pomocniczych i elementów półprzewodnikowych = Scaning electron microscape in an application to the technological testing of materials and elements used in electronics - Autorzy:
- Pawłowska Marta
- Data publikacji:
- 1974
- Wydawca:
- Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
- Słowa kluczowe:
-
SEM
testowanie materiałów elektronicznych
technological testing of electronic mnaterials
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych