- Tytuł:
- Test points selection algorithms improving efficiency of analog circuit fault diagnosis
- Autorzy:
-
Ossowski, M.
Korzybski, M. - Data publikacji:
- 2013
- Słowa kluczowe:
-
układy analogowe
detekcja uszkodzeń
algorytmy genetyczne
wyżarzanie symulowane
teoria systemów szarych
selekcja punktów testowych
analog circuits
fault diagnosis
genetic algorithms
simulated annealing
grey relational analysis
test points selection - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł