Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "test-pattern generation" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    Charakteryzacja komórek standardowych CMOS dla generacji wektorów testowych
    Autorzy:
    Pleskacz, W. A.
    Wielgus, A.
    Kasprowicz, D.
    Borejko, T.
    Kuźmicz, W.
    Data publikacji:
    2008
    Słowa kluczowe:
    testowanie układów cyfrowych
    generacja wektorów testowych
    testowanie prądowe
    DDQ
    defekty fizyczne
    uszkodzenia zwarciowe
    digital-circuit testing
    test-pattern generation
    DDQ testing
    physical defects
    bridging faults
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies