Temat: time-resolved tapping mode

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Utilization of AFM mapping of surface's mechanical properties in diagnostics of the materials for electrotechnics
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
tryb NanoSwing
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
time-resolved tapping mode
mechanical properties mapping
nanomaterials
material science; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Utilization of AFM mapping of surfaces mechanical properties in diagnostics of the materials for electrotechnics
Wykorzystanie mapowania właściwości mechanicznych powierzchni technikami AFM w diagnostyce materiałów stosowanych w elektrotechnice
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:: mikroskopia sił atomowych
tryb NanoSwing
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
time-resolved tapping mode
mechanical properties mapping
nanomaterials
material science; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Informacja