- Tytuł:
- Nowe zadania pomiarów ostrzowych w procesie wytwarzania przyrządów półprzewodnikowych
- Autorzy:
-
Kołodziejski, J. F.
Szczęsny, J. - Data publikacji:
- 2012
- Słowa kluczowe:
-
półprzewodniki
testy na płytkach
uszkodzenia struktur
niezawodność
semiconductor
wafer-level testing
burn-in
device failures
liability
costs reducing - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł