- Tytuł:
- Electronic properties of stacked ZrO₂ films fabricated by atomic layer deposition on 4H-SiC
- Współwytwórcy:
-
Król, Krystian. Autor
Gierałtowska, Sylwia. Autor
Sochacki, Mariusz (elektronik). Autor
Wachnicki, Łukasz. Autor
Kwietniewski, Norbert. Autor - Data publikacji:
- 2017
- Tematy:
-
Tlenek cynku
Struktura elektronowa
Karborund
Fizykochemiczne metody badawcze
Właściwości fizyczne - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Academica