Temat: X-ray microanalysis

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Precyzja wyników mikroanalizy rentgenowskiej i metody jej podwyższenia
Proceedings of ITME 1987 z. 22
Precyzja wyników mikroanalizy rentgenowskiej i metody jej podwyższenia = The X-ray microanalysis precision and methods of its improving
Prace ITME 1987 z. 22
Autorzy:: Stróż Kazimierz
Data publikacji:: 1987
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: Elektronika - czasopismo - materiały
quantitative analysis
Materiały elektroniczne
x-ray microanalysis
Electronic materials
analiza ilościowa
mikroanaliza rentgenowska
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw = X-ray microanalysis of thin films
Proceedings of ITME 1983 z. 8
Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw
Prace ITME 1983 z. 8
Autorzy:: Sikorski Krzysztof
Współwytwórcy:: Szummer Krzysztof
Data publikacji:: 1983
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: Materiały elektroniczne
x-ray microanalysis
Electronic materials
Electronic - journal - material
thin film
warstwa cienka
mikroanaliza rentgenowska
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Ilościowa mikroanaliza rentgenowskaiwrwiastków lekkich. Porównanie wyników metod korekcyjnych
Materiały Elektroniczne 1987 nr 3(59)
Ilościowa mikroanaliza rentgenowskaiwrwiastków lekkich. Porównanie wyników metod korekcyjnych = A quantitative x-ray microanalysis of lihgt elements. Comparison of methods
Autorzy:: Kaczyński Łukasz
Współwytwórcy:: Szummer Andrzej
Data publikacji:: 1988
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
x-ray microanalysis
Electronic materials
light element
mikroanaliza rentgenowska
pierwiastek lekki
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1993 T.21 nr 2
Badanie adhezji warstw miedziowych metodą mikroanalizy rentgenowskiej
Badanie adhezji warstw miedziowych metodą mikroanalizy rentgenowskiej = Investigations of copper films adhesion by x-ray microanalysis
Autorzy:: Jakubowska Małgorzata
Współwytwórcy:: Paduch Józef
Kaczyński Łukasz
Data publikacji:: 1993
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: adhesion
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
x-ray microanalysis
copper film
Electronic - journal - materials
adhezja
mikroanaliza rentgenowska
warstwa Cu
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1974 nr 8
Zastosowanie metody mikroanalizy rentgenowskiej do badania składu chemicznego warstw epitaksjalnych związków potrójnych grupy AIIIBV na przykładzie GA1-xAlxAs
Zastosowanie metody mikroanalizy rentgenowskiej do badania składu chemicznego warstw epitaksjalnych związków potrójnych grupy AIIIBV na przykładzie GA1-xAlxAs = X-ray microanalysis application for the investigation of epitaxial layer chemical composition of AIIIBV group triple compounds with the Ga1-x\alx\as as a representative of this group
Autorzy:: Kozłowska Halina
Współwytwórcy:: Senkara Jacek
Data publikacji:: 1974
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: warstwa epitaksjalna
chemical composition
epitaxial layer
Elektronika - czasopismo - materialy
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
x-ray microanalysis
AIIIBV
Electronic - journal - materials
mikroanaliza rentgenowska
skład chemiczny; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Microscopic and microanalytical examinations of metallic particles and single textile fibres for forensic purposes
Autorzy:: Wąs-Gubała, Jolanta
Brożek-Mucha, Zuzanna
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Formatex Research Center
Słowa kluczowe:: optical microscopy
x-ray microanalysis
scanning electron microscopy;
UV/Vis microspectrophotom etry
FTIR microspectroscopy;
metallic particle s
forensic chemistry
gunshot residues
forensic sciences
Raman microspectroscopy
textile fibres; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

Szczegóły

Informacja