Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "AlGaN/GaN heterostructures" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-31 z 31
Tytuł:
Badanie elektrycznych właściwości powierzchni heterostruktur AlGaN/GaN/Si technikami mikroskopii ze skanującą sondą i oświetleniem
Autorzy:
Szyszka, Adam
Wośko, Mateusz
Paszkiewicz, Regina
Data publikacji:
2019
Słowa kluczowe:
azotek galu
AlGaN/GaN
skaningowa mikroskopia pojemnościowa
skaningowa mikroskopia potencjału powierzchniowego
SCM
SSPM
SPM
gallium nitride
AlGaN/GaN/Si
scanning potential microscopy
scanning capacitance microscopy
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-31 z 31

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies