- Tytuł:
- Atomic force microscopy in mechanical measurements of single nanowires
- Autorzy:
-
Fidelus, Janusz D.
Gotszalk, Teodor P.
Mika, Krystyna
Sulka, Grzegorz
Gacka, Ewelina
Zaraska, Leszek
Pruchnik, Bartosz C. - Data publikacji:
- 2024
- Dostawca treści:
- Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego