Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Piątkowska, A." wg kryterium: Wszystkie pola


Tytuł:
Opis uszkodzeń warstwy DLC i podłoża Si w badaniach mikrotwardości z rejestracją sygnału EA
Description of damages of the DLC layer on the Si substrate with registration of AE signal
Autorzy:
Piątkowska, A.
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
mikrotwardość
pop-in
emisja akustyczna
DLC
microindentation
acoustic emission
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Prezentacja głównego zakresu możliwości obrazowania i analizy za pomocą mikroskopu Auriga® Crossbeam® Workstation firmy Carl Zeiss znajdującego się w Instytucie Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
Autorzy:
Jóźwik, I.
Piątkowska, A.
Data publikacji:
2009
Słowa kluczowe:
mikroskopia skaningowa
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies