Wszystkie pola: SIMS depth profiles

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "SIMS depth profiles" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-4 z 4

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: MD-based transport and reaction model for the simulation of SIMS depth profiles of molecular targets
Autorzy:: Postawa, Zbigniew
Licciardello, Antonino
Tuccitto, Nunzio
Maciążek, Dawid
Data publikacji:: 2019
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Badanie powierzchni szkła wiązką jonów
Autorzy:: Tuleta, M.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: szkło
wiązka jonów
profile głębokościowe SIMS
glass
ion beam
SIMS depth profiles; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Badanie powierzchni materiałów ceramicznych metodą spektrometrii masowej jonów wtórnych
Autorzy:: Tuleta, M.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: szkło
warstwa diamentowa
profil głębokościowy SIMS
glass
diamond film
SIMS depth profiles; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Steady-state statistical sputtering model for extracting depth profiles from molecular dynamics simulations of dynamic SIMS
Autorzy:: Wucher, Andreas
Paruch, Robert
Postawa, Zbigniew
Garrison, Barbara J.
Data publikacji:: 2012
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-4 z 4

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "SIMS depth profiles" wg kryterium: Wszystkie pola