Wszystkie pola: oval defects

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "oval defects" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-5 z 5

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Oval defects in crystals grown by MBE technique: study and methods of elimination abstract
Autorzy:: Szerling, A.
Kosiel, K.
Płuska, M.
Ochalski, T. J.
Ratajczak, J.
Data publikacji:: 2004
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Elektronowej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Properties and origin of oval defects in epitaxial structures grown by molecular beam epitaxy
Współwytwórcy:: Wójcik-Jedlińska, Anna
Bugajski, Maciej
Płuska, Mariusz
Instytut Technologii Elektronowej
Szerling, Anna
Kosiel, Kamil.
Data publikacji:: 2005
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Properties and origin of oval defects in epitaxial structures grown by molecular beam epitaxy
Autorzy:: Szerling, A.
Kosiel, K.
Wójcik-Jedlińska, A.
Płuska, M.
Bugajski, M.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: oval defects
A3B5
molecular beam epitaxy (MBE)
spectrally resolved photoluminescence
scanning electron microscopy (SEM)
cathodoluminescence; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Oval defects in crystals grown by MBE technique: study and methods of elimination abstract
Autorzy:: Szerling, A.
Kosiel, K.
Płuska, M.
Ochalski, T. J.
Ratajczak, J.
Data publikacji:: 2004
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Nierównomierność odkształcenia pasma w wykrojach owalnych jako przyczyna wad powierzchniowych walcowanych prętów okrągłych
Autorzy:: Nowakowski, A.
Sińczak, J.
Kuźmiński, Z.
Data publikacji:: 2002
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-5 z 5

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "oval defects" wg kryterium: Wszystkie pola