- Tytuł:
- Characterization of defects in conductive materials by the intrusive stochastic method using the random variable Lognormal
- Autorzy:
-
Oudni, Zehor
Berkache, Azouaou
Lee, Jinyi
Ouamara, Dehbia - Data publikacji:
- 2022
- Słowa kluczowe:
-
lognormal random variabl
Intrusive stochastic finite element method
probability of failure
lognormalna zmienna losowa stochastyczna metoda elementów skończonych
zmiana impedancji - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł