- Tytuł:
- Badanie powierzchni materiałów ceramicznych metodą spektrometrii masowej jonów wtórnych
- Autorzy:
- Tuleta, M.
- Data publikacji:
- 2014
- Słowa kluczowe:
-
szkło
warstwa diamentowa
profil głębokościowy SIMS
glass
diamond film
SIMS depth profiles - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech